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介绍近景摄影测量系统IADC70
引用本文:
文沃根.介绍近景摄影测量系统IADC70[J].测绘科学,1985(4).
作者姓名:
文沃根
摘 要:
<正> 今年二月,瑞典VIMATEK AB厂首次在美国ASP会议上展出了一个小型解析摄影测量系统IDAC70。三月二十五日该厂携带该系统来华在国家测绘局大楼展览两天,并详细介绍和表演。该系统特点是重量轻,携带方便,操作简单。特别适合于近景摄影测量和低空摄影测量。IADC70有四个部分(如图1):
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