K剖面法的实质及方法理论问题的探讨

本文从K剖面法的理论公式出发。着重探讨K与ρ_3之间的关系、K的等价性、K与P_3比值法的内在联系。K剖面法资料有其独到之处,它是P_3的二次专用标志。仍受等值原理的影响。K剖面法具有ρ_3比值法的三大优点:压制局部干扰,增加邻近电性层的分辨能力,压制地下电性不均匀体的影响。作者主张K剖面法资料以不等比(施伦贝尔)测深装置的ρ_3曲线整理为宜。