| 岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定 |
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| 引用本文： | 王毅民,梁国立.岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定[J].岩石矿物学杂志,1984,3(1):58-63. |
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| 作者姓名： | 王毅民 梁国立 |
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| 作者单位： | 中国地质科学院岩矿测试技术研究所
(王毅民)，中国地质科学院岩矿测试技术研究所(梁国立) |
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| 摘 要： | 用X-荧光光谱测定岩石中低量稀土元素的仪器参数和测定条件,文1]已作过讨论。本文介绍样品分析所采用的基本校正,谱线重叠校正和背景处理方法,并将这些方法应用于其他少量和痕量元素的测定。基体的吸收校正岩石样品中最重的主元素是铁,镧系元素La～Er的La线和Ti,Sc,Cr,Mn,Fe,
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Determination of Trace Rare Earth Elements and Other Trace Elements in Rocks by X-Ray Fluorescence Analyses |
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| Abstract: | This paper deals with correcting matrix effects and interferences between
spectral lines and background in X-ray fluorescence analyses of trace elements
(especially trace REE) in rocks. It can also be used for Ti, V, Cr,Mn, Co, Ni,
Cu, Zn, Nb, Zr, Hf, Rb, Sr,, U, Th, Pb, W and Ba. The detection limits are 5-X
× lOppm. |
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