OptiTrack系统点位测量的精度测试

OptiTrack系统用于工业测量前需要先对其测量精度进行测试。利用平面测量点对OptiTrack系统分别进行了内符合精度和外符合精度测试实验,实验结果表明在3m范围内,OptiTrack系统三维坐标重复测量精度优于0.04mm,点位测量的均方根误差优于0.2mm,可满足中等精度工业测量需求。使用控制变量法分析了帧率、曝光时间、灰度阈值、红外LED亮度四个系统参数的取值与OptiTrack系统测量精度的关系,得出了实验环境下四个参数对测量精度的影响规律。