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熔融制样X射线荧光光谱法测定含硫量高的石膏矿物中主次量元素
引用本文:魏灵巧,宋红元,易达,罗磊,付胜波,黄瑞成.熔融制样X射线荧光光谱法测定含硫量高的石膏矿物中主次量元素[J].岩矿测试,2015,34(4):448-453.
作者姓名:魏灵巧  宋红元  易达  罗磊  付胜波  黄瑞成
作者单位:湖北省地质局第六地质大队, 湖北 孝感 432000;中国地质大学(武汉)材料与化学学院, 湖北 武汉 430074,湖北省地质局第六地质大队, 湖北 孝感 432000,湖北省地质局第六地质大队, 湖北 孝感 432000,湖北省地质局第六地质大队, 湖北 孝感 432000,湖北省地质局第六地质大队, 湖北 孝感 432000,湖北省地质局第六地质大队, 湖北 孝感 432000
基金项目:中国地质大调查项目——地质实验测试技术研发示范与应用“湖北云应地区膏盐矿分析方法与技术体系研究”(12120113015800)
摘    要:X射线荧光光谱法(XRF)已经应用于石膏等非金属矿物的测定,但由于石膏标准物质匮乏、硫含量较高且在高温易挥发损失,给测定带来了一定困难。本文采用石膏标准物质、高纯硫酸钙和其他国家一级标准物质(土壤、水系沉积物、碳酸盐)配制人工标准物质拟合校准曲线,优化稀释比、熔矿温度等熔融制样条件,用理论α系数校正基体效应,建立了采用XRF同时测定石膏矿中10个主次量元素(硅铝铁钙镁钾钠钛硫锶)的分析方法。样品与四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂的稀释比为1∶9,在1050℃温度下样品熔融完全。方法检出限为4~135μg/g,精密度(RSD,n=12)小于3.0%。本方法配制的人工校准样品加强了样品基体的适应性,使用的四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂在样品熔融过程中可有效地结合硫,抑制了硫的挥发损失,适用于批量分析硫含量高达12.60%~51.91%的实际石膏矿物。

关 键 词:石膏  主次量元素    四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂  X射线荧光光谱法
收稿时间:7/4/2014 12:00:00 AM
修稿时间:5/5/2015 12:00:00 AM

Determination of Major and Minor Elements in High-S Gypsum Mine by X-ray Fluorescence Spectrometry with Fusion Sample Preparation
WEI Ling-qiao,SONG Hong-yuan,YI D,LUO Lei,FU Sheng-bo and HUANG Rui-cheng.Determination of Major and Minor Elements in High-S Gypsum Mine by X-ray Fluorescence Spectrometry with Fusion Sample Preparation[J].Rock and Mineral Analysis,2015,34(4):448-453.
Authors:WEI Ling-qiao  SONG Hong-yuan  YI D  LUO Lei  FU Sheng-bo and HUANG Rui-cheng
Institution:The Sixth Geological Brigade of Hubei Geological Bureau, Xiaogan 432000, China;Faculty of Material Science and Chemistry, China University of Geosciences (Wuhan), Wuhan 430074, China,The Sixth Geological Brigade of Hubei Geological Bureau, Xiaogan 432000, China,The Sixth Geological Brigade of Hubei Geological Bureau, Xiaogan 432000, China,The Sixth Geological Brigade of Hubei Geological Bureau, Xiaogan 432000, China,The Sixth Geological Brigade of Hubei Geological Bureau, Xiaogan 432000, China and The Sixth Geological Brigade of Hubei Geological Bureau, Xiaogan 432000, China
Abstract:
Keywords:gypsum  major and minor elements  sulfur  lithium tetraborate-lithium metaborate flux  X-ray Fluorescence Spectrometry
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