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| 用EOS MODIS和MISR数据计算全球BRDF和反照率(英文) | |
| 作者姓名： | ＷｏｌｆｇａｎｇＷａｎｎｅｒ ＡｌａｎＨ．Ｓｔｒａｈｌｅｒ 胡宝新 ＰｈｉｌｉｐＬｅｗｉｓ 李小文 ＭｉｋｅＪ．Ｂａｒｎｓｌｅｙ |
| 作者单位： | Wolfgang Wanner，Alan H. Strahler，Baoxin Hu( Center for Remote Sensing，Boston University，Boston，USA)Philip Lewis(Remote Sensing Unit，University College London，London，UK)Xiaowen Li(Center for Remote Sensing，Boston University，Boston，US |
| 摘 要： | 用空间分辨率为１ｋｍ的ＭＯＤＩＳ和ＭＩＳＲ数据可计算１６天ＢＲＤＦ和反照率产品，该文证明了在多数采样条件下，用ＭＯＤＩＳ／ＭＩＳＲ角度采样的ＢＲＤＦ和反照率反演精度在５到１０个百分点以内。 |
| 关 键 词： | 双向反射率，反照率，MODIS，EOS |
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