目估法“杂基处理”的商榷和薄片粒度分析的精度 |
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引用本文: | 吴健君.目估法“杂基处理”的商榷和薄片粒度分析的精度[J].煤田地质与勘探,1986(3). |
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作者姓名: | 吴健君 |
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作者单位: | 江苏省煤田地质勘探一队 |
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摘 要: | 看了《薄片粒度分析和“杂基处理”》一文(李保庆,《煤田地质与勘探》,1984年第4期),感到作者所提问题很有现实意义。当前,在粒度分析方法及资料的应用上,的确还存在某些混乱现象。这些问题只有通过理论上的探讨和正反两方面经验的总结才能加以澄清。笔者根据工作实践,仅谈谈对另一种“杂基处理”方法——目估法以及薄片粒度分析精度的看法。
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