| FIB-TOF-SIMS联用技术在矿物学研究中的应用 |
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| 引用本文： | 王涛,葛祥坤,范光,郭冬发.FIB-TOF-SIMS联用技术在矿物学研究中的应用[J].铀矿地质,2019(4):247-252. |
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| 作者姓名： | 王涛 葛祥坤 范光 郭冬发 |
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| 作者单位： | 核工业北京地质研究院 |
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| 摘 要： | 基于聚焦离子束扫描电子显微镜的飞行时间二次离子质谱联用技术同时具备了聚焦离子束高空间分辨率以及飞行时间二次离子质谱轻元素、同位素分析以及较低的元素检出限的优势。可以实现:扫描电镜下原位分析H、Li、Be、B等轻元素;元素分布的纳米级横向空间分辨率;元素三维空间分布。能够同时得到纳米级矿物的形貌、元素组成以及元素空间分布信息,该技术在地学领域有广阔的应用前景。
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| 关 键 词： | 飞行时间二次离子质谱 聚焦离子束扫描电镜 元素三维空间分布 轻元素分析 纳米级空间分辨率 |
Application of Combined FIB-TOF-SIMS System in Mineralogy |
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| WANG Tao,GE Xiangkun,FAN Guang,GUO Dongfa.Application of Combined FIB-TOF-SIMS System in Mineralogy[J].Uranium Geology,2019(4):247-252. |
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| Authors: | WANG Tao GE Xiangkun FAN Guang GUO Dongfa |
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| Institution: | (Beijing Research Institute of Uranium Geology,Beijing 100029,China) |
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| Abstract: | WANG Tao;GE Xiangkun;FAN Guang;GUO Dongfa(Beijing Research Institute of Uranium Geology,Beijing 100029,China) |
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| Keywords: | time-of-flight secondary ion mass spectrometry(TOF-SIMS) focused ion beam scanning electron microscope(FIB-SEM) three-dimensional spatial distribution of elements light element analysis nanoscale spatial resolution |
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