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| 核物探X射线荧光法在我国锡矿地质中的应用 | |
| 引用本文： | 章晔,谢庭周,梁致荣,黄国强,于建.核物探X射线荧光法在我国锡矿地质中的应用[J].地质与勘探,1982(10). |
| 作者姓名： | 章晔 谢庭周 梁致荣 黄国强 于建 |
| 作者单位： | 成都地质学院 (章晔，谢庭周，梁致荣，黄国强)，成都地质学院(于建) |
| 摘 要： | 概述放射性同位素X射线荧光方法可以定量测定锡的重量浓度或面积浓度.在化探领域里,它可以测定分散晕上的疏松沉积物或分散流底部沉积物中的锡重量浓度,用来寻找锡矿化异常.评价锡的矿化异常时,通常要进行槽探、井探,甚至坑探或钻探,这阶段应用X射线荧光技术可在岩矿露头表面(如在槽探、井探、坑探中)或钻孔岩芯进行现场测量,划分矿层厚度,计算“线储量”.在钻孔中也可以进行X射线荧光测井,划分矿层、计算储量,提供井壁的锡矿化情况,弥补岩芯提取率的不足. |
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