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光滑条件约束下密集等高线识别算法研究
作者姓名:邓德祥 苗京
作者单位:武汉测绘科技大学光电工程学院
摘    要:
介绍了一种在光滑条件约束下密集等高线的跟踪识别方法,解决了等高线的光滑和保真识别问题。

关 键 词:数字图像 等高线 光滑条件 地形测量 识别算法
本文献已被 维普 等数据库收录!
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