| 合成偏移--一种新的倾角测井解释方法 |
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| 作者姓名： | 合成偏移(SYNDEV)是由井孔的倾斜方位角和井斜倾角来计算的，其算法很简单，大多应用正切函数方法来计算井斜。它用一种简单的办法来将SYNDEV设想成总是与层面垂直的井孔。这种设想使合成井孔总是与层面法线一致。这是在作图和计算过程中代表倾角的一种方法。作成的SYNDEV图包括水平位移图、平面图、剖面图、总方位角和方位角差图，是处理井斜资料所作出的图件。把这些图件组合成较大的相关分析图后，可以从图中识别出隐含的地质特征，如小断层、不整合面以及层序边界等，而这些特征在常规的倾角矢量图或累积倾角图上是不容易分辨出来的。SY |
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| 摘 要： | ![]()
合成偏移（ＳＹＮＤＥＶ）是由井孔的倾斜方位角和井斜倾角来计算的，其算法很简单，大多应用正切函数方法来计算井斜。它用一种简单的办法来将ＳＹＮＤＥＶ设想成总是与层面垂直的井孔。这种设想使合成井孔总是与层面法线一致。这是在作图和计算过程中代表倾角的一种方法。作成的ＳＹＮＤＥＶ图包括水平位移图、平面图、剖面图、总方位角和方位角差图，是处理井斜资料所作出的图件。把这些图件组合成较大的相关分析图后，可以从图中识别出隐含的地质特征，如小断层、不整合面以及层序边界等，而这些特征在常规的倾角矢量图或累积倾角图上是…
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