采用X射线粉晶衍射仪实现岩石薄片中矿物的原位微区分析 |
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引用本文: | 肖,平,陆,琦,于吉顺.采用X射线粉晶衍射仪实现岩石薄片中矿物的原位微区分析[J].矿物岩石,2014(1):6-9. |
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作者姓名: | 肖 平 陆 琦 于吉顺 |
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作者单位: | 中国地质大学(武汉)地质过程与矿产资源国家重点实验室;中国地质大学地球科学学院; |
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基金项目: | 国家自然科学基金项目(编号:408720038);中央高校基本科研业务费专项资金资助(编号:CUGL130209) |
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摘 要: | 采用帕纳科(PANalytical)公司生产的型号为X\pert PRO的X射线粉晶衍射仪,对鄂尔多斯盆地方沸石岩薄片中的方沸石进行原位微区衍射,成功地确定了方沸石的物相。此次实验中,仪器在入射光路,配备点光源和光导毛细管,毛细管直径为100um;衍射光路上则使用了超能探测器(X′Celerator)。实验条件为:加速电压40kV,电流40mA,Cu靶,Ni滤波。将获得的方沸石衍射数据与编号为41-1478标准卡片对比,发现实验结果具有一定程度的定向性。在此基础上,提出微区X射线粉晶衍射方法的样品需满足两个要求:1)矿物颗粒的粒径小于30um;2)在X光束照射的区域内,同种矿物的颗粒要含量集中。该方法与电子探针分析相结合,可以更准确地鉴定矿物。
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关 键 词: | X射线粉晶衍射仪 岩石薄片 原位微区 方沸石 |
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