首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

采用X射线粉晶衍射仪实现岩石薄片中矿物的原位微区分析
引用本文:肖,平,陆,琦,于吉顺.采用X射线粉晶衍射仪实现岩石薄片中矿物的原位微区分析[J].矿物岩石,2014(1):6-9.
作者姓名:        于吉顺
作者单位:中国地质大学(武汉)地质过程与矿产资源国家重点实验室;中国地质大学地球科学学院;
基金项目:国家自然科学基金项目(编号:408720038);中央高校基本科研业务费专项资金资助(编号:CUGL130209)
摘    要:采用帕纳科(PANalytical)公司生产的型号为X\pert PRO的X射线粉晶衍射仪,对鄂尔多斯盆地方沸石岩薄片中的方沸石进行原位微区衍射,成功地确定了方沸石的物相。此次实验中,仪器在入射光路,配备点光源和光导毛细管,毛细管直径为100um;衍射光路上则使用了超能探测器(X′Celerator)。实验条件为:加速电压40kV,电流40mA,Cu靶,Ni滤波。将获得的方沸石衍射数据与编号为41-1478标准卡片对比,发现实验结果具有一定程度的定向性。在此基础上,提出微区X射线粉晶衍射方法的样品需满足两个要求:1)矿物颗粒的粒径小于30um;2)在X光束照射的区域内,同种矿物的颗粒要含量集中。该方法与电子探针分析相结合,可以更准确地鉴定矿物。

关 键 词:X射线粉晶衍射仪  岩石薄片  原位微区  方沸石
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号