| 一种可用于微米—纳米级矿物研究的新技术——FIB |
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| 引用本文： | 陈晶,徐军,陈文雄.一种可用于微米—纳米级矿物研究的新技术——FIB[J].地质通报,2003,22(5):371-373. |
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| 作者姓名： | 陈晶 徐军 陈文雄 |
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| 作者单位： | 北京大学电子显微镜实验室,北京,100871 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目(40042009)资助。 |
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| 摘 要： | 近年来,随着科学技术的迅猛发展和不断更新,地质学家利用现代微束技术(如:透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)、激光拉曼(Raman)和电子探针(EPMA))等,陆续在曾经遭受过强烈冲击变质作用的陨石和超高压变质作用的大陆岩石中,发现多种微米-纳米级超高压矿物,为推测岩石形成的机制和地质构造环境提供了大量的信息和确凿的证据,并因此引起了地质科学界的广泛兴趣和高度关注,随即很快成为地学研究的前沿及热点。同时,地质学家已意识到纳米科学和技术发展将导致未来地质科学的一场革命犤1犦。随着岩石矿物学研究工作的不断深入,其研究的手段已从光…
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| 关 键 词： | 微米－纳米级矿物 FIB 超显微结构 纳米科学 现代微束技术 透射电子显微镜 TEM |
| 文章编号： | 1671-2552(2003)05-0371-03 |
| 修稿时间： | 2003年3月25日 |
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