| （Sm，Ce）／Zr基柱撑蒙脱石的微结构特征 |
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| 作者姓名： | 管俊芳 陆琦于吉顺 汤中道 |
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| 作者单位： | 1. 武汉理工大学,资源与环境工程学院,湖北,武汉,430070
2. 中国地质大学,测试中心,湖北,武汉,430074 |
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| 基金项目： | 地质行业科学技术发展基金资助项目 ( 95 962 0 ) |
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| 摘 要： | 室温条件下,在锆基的基础上加入其他金属离子配制了(Sm,Ce)／Zr基柱化剂。用该聚合阳离子柱撑钙基蒙脱石,室温下d001值为2．1～2．3m,焙烧300℃后,d001值为1．8nm,衍射峰敏锐对称,说明柱撑蒙脱石的热稳定性超过300℃。FTIR分析结果表明(Sm,Ce)／Zr基柱化剂和蒙脱石的Si—O四面体层形成了稳定的[Si—O]—[H(O)-Zr(Sm,Ce)]键,从结构上鳃释了(Sm,Ce)／Zr基柱撑蒙脱石材料结构稳定的机理。
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| 关 键 词： | （Sm Ce）／Zr基柱化剂 柱撑蒙脱石 微结构特征 FTIR分析 |
| 文章编号： | 1000-6524(2004)02-0173-04 |
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