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| 辉钼矿中钼,硫,铜,钛,硅等元素的X—射线荧光分析 | |
| 作者姓名： | 马光祖 罗立强 |
| 作者单位： | 地矿部岩矿测试研究所(马光祖)，地矿部岩矿测试研究所(罗立强) |
| 摘 要： | 本文继续研究了用XRFA法测定辉钼矿中钼、硫、铁、钛、硅等元素的分析方法。通过用粉末压片法,薄样法与基本参数法相结合,克服了样品粒度和基体效应,有效地控制了硫化物变异性的影响。与已研究的XRFA测定铼的方法相配合,形成辉铜矿中主、次与痕量元素的测定方法。该方法分析结果与化学分析,火花源质谱分析的结果相符。 |
| 关 键 词： | 辉钼矿 元素 X－射线荧光 钼 硫 铜 |
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