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全息干涉法测量Ⅰ型结构面KⅠ技术路线
作者姓名:胡秀宏  伍法权  刘海燕
作者单位:1. 中国科学院地质与地球物理研究所 工程地质力学重点试验室,北京 100029; 2. 山东科技大学 地质科学与工程分院,青岛 266510
基金项目:中国青年科学基金  
摘    要:岩体Ⅰ型结构面应力强度因子KⅠ是岩体的一个重要参数,求取KⅠ的过程需确定结构面几何影响因子 。根据修正的Feddersen公式,可以制作出与工程岩体Ⅰ型结构面具有相同 的试验岩石模型。根据激光全息干涉法两次曝光法的理论,结合裂纹尖端的应力场方程组、平面光弹性的应力-光定律,建立新的标准化试验方法和算法,可以构建出使用激光全息干涉法2次曝光法测量工程岩体Ⅰ型结构面应力强度因子KⅠ的试验技术路线,该法具有条纹易识别,精度高的优点。

关 键 词:全息干涉法  应力强度因子  几何影响因子  工程岩体  
收稿时间:2007-03-22
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