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Book Review: Spatial Statistics for Remote Sensing. By Alfred Stein, Freek Van Der Meer, and Ben Gorte. Kluwer Academic Publishers, Dordrecht, The Netherlands, 1999, 284 p., $135 (U.S.), ISBN 0-7923-5958-X paperback
Authors:T. C. Coburn
Affiliation:(1) Abilene Christian University, Abilene, Texas, 79699
Abstract:
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