原子发射光谱法同时测定微量锡石单矿物中33个元素

地质人员在研究锡石单矿物时,不仅需要知道该矿物的主要,次要成分,而且还需查明赋存元素以及与锡矿床成因类型有关的某些微量元素。用化学方法分析锡石单矿物不仅分解样品比较困难,而且其中一些元素的测定灵敏度也难于达到。用样量也较多。而发射光谱分析则在这方面具有明显的优点。因此我们经系统的试验后,拟定了本方法,在一次摄谱中可测定Y,Yb,Zr,Hf,Cr……等33个元素,仅需10mg单矿物。     

原子发射光谱法同时测定微量锡石单矿物中33个元素

地质人员在研究锡石单矿物时,不仅需要知道该矿物的主要,次要成分,而且还需查明赋存元素以及与锡矿床成因类型有关的某些特征元素.用化学方法分析锡石单矿物不仅分解样品比较困难,而且其中一些元素的测定灵敏度也难于达到.需用的矿物量也较多.而发射     

化学反应在发射光谱分析上的应用(Ⅱ)——同时测定岩石中W、Mo等十一个痕量元素

在发射光谱分析中应用化学反应的方法,由于它具有很低的分析检出限和较高的分析精度等特点,现已在纯物质中的杂质元素分析和矿物原料中的痕量元素分析方面,得到了较广泛的应用。並在反应机理、反应条件和反应剂的选择等方面做了相当多的研究。这种方法的实质是:利用电弧高温使装填在电极孔中的试样物质和加入的化学反应剂之间发生化学反应。反应的结果,试样中的待测元素转变为更易挥发,更易离解的化合物。或者基体元素     

锡石中少量钨的光谱测定

在通常的工作条件下,不能对钨进行定量测定。本文叙述了我们通过实验,选用硫磺作热作热化学试剂,使钨在碳化前形成易挥发硫化物的办法消除钨的碳化作用,从而拟定了锡石中0.003-1.5％钨的直接光谱测定法。     

锡石中Nb、Ta、Ge、In、Ag、Sc等十二个微痕量元素的光谱测定法

锡石单矿物中的微痕量元素,用化学方法测定时,由于样品不易分解,难于获得理想的结果。应用光谱法测定,虽具有取样少、多种元素能同时测定等优点,但Sn的强扩散线3262(?)、3175(?)、3034(?)、2840(?)、2706(?)、2661(?)所产生的强背景,给测定某些痕量元素(特别是In、Ge、Nb、Ta、Cc、Ag等)带来很大的困难。我们通过对缓冲剂及电极形状等工作条件的选择,利用分馏效应采用两段曝光的办法,避免了基体元素Sn的干扰影响,