应用同位素放射性X—射线荧光分析法测锡效果的试验

携带式同位素放射性X—射线荧光分析,是一种非破坏性(对样品)的仪器分析方法。笔者在某地区地质普查中使用重庆地质仪器厂制造的HYX—1型X射线荧光仪,对原生露头、次生晕土壤、中强异常检查、槽探和钻孔岩心等工程中的花岗岩、灰岩、砂岩和矽卡岩等不同岩性进行了室内粉样和现场测锡工作,获得了与化学分析和光谱分析较一致的理想结果。为该地区圈出四个异常范围、发现了新的锡矿化,指导了探矿工程的布置。