不同胶结情况下套管井中声场激发谱的研究

采用实轴积分法计算套管刻度井中的声场激发谱,分析了第一、第二界面的胶结情况以及模拟地层的厚度等对井内声场的影响。数值结果显示：在套管刻度井中,模拟地层厚度的增大或第一、第二界面的胶结状况变差,该地层的外边界对井中激发谱的影响变小,在低频（小于3 kHz）情况下,当外边界半径大于0.2 m时,不管第一、第二界面胶结状况如何,该边界面对井中激发谱的影响基本可以忽略;在设计套管刻度井时,为减小模拟地层的外边界对井内声场的影响,既要考虑不同胶结情况下模拟地层的厚度问题,还应考虑声源测量频率的影响问题。