原子发射光谱法同时测定微量锡石单矿物中33个元素

地质人员在研究锡石单矿物时,不仅需要知道该矿物的主要,次要成分,而且还需查明赋存元素以及与锡矿床成因类型有关的某些微量元素。用化学方法分析锡石单矿物不仅分解样品比较困难,而且其中一些元素的测定灵敏度也难于达到。用样量也较多。而发射光谱分析则在这方面具有明显的优点。因此我们经系统的试验后,拟定了本方法,在一次摄谱中可测定Y,Yb,Zr,Hf,Cr……等33个元素,仅需10mg单矿物。     

原子发射光谱法同时测定微量锡石单矿物中33个元素

地质人员在研究锡石单矿物时,不仅需要知道该矿物的主要,次要成分,而且还需查明赋存元素以及与锡矿床成因类型有关的某些特征元素.用化学方法分析锡石单矿物不仅分解样品比较困难,而且其中一些元素的测定灵敏度也难于达到.需用的矿物量也较多.而发射     

岩石土壤中0.05ppm级钴的直接光谱测定法

岩石、土壤中痕量钴的分析,用发射光谱法进行直接测定是个较为简捷、可靠的方法。但通常方法,以及直接粉末进样的ICP法和ICP光电直读法的测定下限均未低于1ppm,本方法利用AgCl作热化学试剂,在室电极中与钻形成易挥发的氯化钻,极大地提高了分析试样中钴的蒸发速度,从而大大提高了测定灵敏度。允许直接测定岩石和土壤中0.05ppm的钻。当其浓度为ppm级时,测定的相对标准偏差为10.6％。     

锡石中少量钨的光谱测定

在通常的工作条件下,不能对钨进行定量测定。本文叙述了我们通过实验,选用硫磺作热作热化学试剂,使钨在碳化前形成易挥发硫化物的办法消除钨的碳化作用,从而拟定了锡石中0.003-1.5％钨的直接光谱测定法。     

锡石中Nb、Ta、Ge、In、Ag、Sc等十二个微痕量元素的光谱测定法

锡石单矿物中的微痕量元素,用化学方法测定时,由于样品不易分解,难于获得理想的结果。应用光谱法测定,虽具有取样少、多种元素能同时测定等优点,但Sn的强扩散线3262(?)、3175(?)、3034(?)、2840(?)、2706(?)、2661(?)所产生的强背景,给测定某些痕量元素(特别是In、Ge、Nb、Ta、Cc、Ag等)带来很大的困难。我们通过对缓冲剂及电极形状等工作条件的选择,利用分馏效应采用两段曝光的办法,避免了基体元素Sn的干扰影响,     

原子发射光谱直接测定钖石中低量铌钽的研究

用光谱法测定饧石中低量铌钽时,发现当Nb/Ta大于5,钽的含量>0.X％时,钽谱线将受到严重的削弱,特别是以纯碳粉做缓冲剂时,影响更为严重。故不能用固定的一种铌钽比标准样测定钽。而矿石中常常又是铌大于钽,有时高达10倍。因此,增加了测试工作的困难。经过一系列试验,当采用BaF_2和碳粉作缓冲剂,与样品按30:1混合,配合其它条件,达到即使Nb_2O_5:Ta_2O_5=10:1,Ta_2O_5高达3％时,用Nb_2O_5:Ta_2O_5=1:1的标准系列进行测定,也无影响。从而拟定了用一套标准直接测定钖石中0.1—3％的Nb_2O_5和0.03—3％的Ta_2O_5,取得了满意的结果。