地质样品中微量元素的质子激发X射线发射分析

质子激发X射线发射(PIXE)分析是近年发展起来的一种新的微量分析技术。由于传统方法要求的薄靶制样等方面的困难，迄今它在地质样品方面的应用尚不多见。本工作针对地质样品的特点，尝试了简单、方便的厚靶制样法，并采用计算机处理技术解决了由此而引起的复杂的理论校正问题。对若干USGS，岩石标准样作了试分析，结果是令人满意的，从而为微量元素的地球化学研究开辟了一条新的选径。     

XRF Determination of 17 Trace Elements in Geological Samples Using an Extended Compton Scattering Correction Procedure

This work is intended to explore a fast and effective apoproach to the determination of various trace elements in geological samples throuth improvement and simplification of the method developed by Reynolds (1963,1967),Absorption correction was made for the Fe content to eliminate the effect caused by inconsistency in mass absorption coefficients among the samples.A computer-aid regression analysis was performed on a number of standards of various compositions,which resulted in a set of calibration equations for directly converting X-ray intensities to concentrations.An analytical error of 10-30% was involved in the analyses of most elements.     

扩展康普顿散射校正法X射线荧光测定地质样品中17个微量元素

本文通过对Reynolds(1963,1967)方法的简化和改进开发了一个可测定地质样品中多种微量元素的快速而有效的方法,对样品中的铁含量进行了吸收校正从而克服了样品质量吸收系数变化不一致性的影响。通过大量标样的计算机回归分析得到了一组校正方程,将X射线强度直接转换为含量。对大部分被分析元素的分析误差为10—30％。     

离子交换薄膜-X射线荧光法测定地质样品中的微量稀土元素

对地质样品中微量元素的研究是现代地球化学课题中极为重要的一部分。特别是稀土元素在地质体中的分配和分布模式,对成岩、成矿作用、地球演化甚至宇宙化学等方面的一些问题的研究都具有特殊的意义。