发射光谱测定锡石单矿物中28个痕量元素

本文提出了ＡＥＳ法测定粉来状的锡石样品、分析只需要１０ｍｇ锡石单矿物。一次摄谱分析Ｔａ、Ｙ、Ｓｂ等２８个痕量元素、方法稳定、操作简便、效果较好。     

氯化反应在发射光谱分析上的应用—同时测定化探样品中十个痕量元素

本方法提出化探样品中测定十个痕量元素(W、Bi、Ag、Ga等)。这些在矿物中的痕量元素和化学反应剂,在电极高温电弧中立即转化成易挥发的化合物。然后达到与基体元素有效的分离。十个元素测定下限为(ppm):W1,Tl1,Cdl,Bi0.3,Ga0.3,In 0.3,Ge 0.3,Mo 0.3,Sn0.3,Ag 0.01。