日食引起的电离层E区不稳定

本文给出了1980年2月16日日全食的高频多卜勒观测结果,发现掩食阶段电离层E区出现三次明显的扰动,生光以后出现两次扰动。利用当时太阳活动区离化源的变化可以解释扰动的主要特征。表明太阳活动区的急剧变化与电离层E区的短期扰动存在很好的对应关系,也就是说,活动区的急剧变化是引起E区不稳定的重要原因之一。