基于时空统计的CCD瑕疵检测校正新方法

从分析CCD像元的光电响应特征入手,分析了不同瑕疵点的响应特征,并对CCD瑕疵进行分类。通过对大量不同场景下的影像进行时空统计分析,提出了根据图像统计异常信息识别瑕疵点的新算法。根据识别的结果标记瑕疵点的位置和类型,根据瑕疵类型对CCD影像进行校正处理。实验结果表明,该算法能够在没有实验室标定的情况下有效地对CCD瑕疵进行自动检测和校正。