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1.
梁国立 《岩矿测试》1991,10(2):150-153
本文介绍了理学3080E型X射线荧光光谱仪性能检验的主要项目,说明了测量方法和技术指标。  相似文献   
2.
X射线荧光光谱分析检出限问题的探讨与建议   总被引:12,自引:5,他引:7  
对有关X射线荧光光谱分析低含量元素的检出限问题进行了多方面的探讨。从检出限的定义及其定义下的相对标准偏差到各种不同测量、校准与校正方法的检出限及其相对应的相对标准偏差进行计算。提出了以定义检出限的相对标准偏差为基准,对各种测量方法计算出的检出限进行重新界定,从而确认一个具有可比性的、精度一致的检出限。同时还讨论了仪器与X光管固有杂质元素谱线对该元素检出限的影响;测量仪器、测量条件与测量时间对检出限的影响;不同岩性试样对检出限的影响;检出限与测定限等问题。  相似文献   
3.
地质样品的X射线荧光光谱分析   总被引:7,自引:1,他引:7  
  相似文献   
4.
X射线荧光分析中最基本的测量是X荧光辐射的强度。在元素分析线角度处测得的强度并不都是样品中该元素的贡献,除元素分析线的强度(净强度)之外的计数统称为背景。 在痕量分析中,背景在分析线强度中占有很大比例。尤其是在检出限附近,背景强度接近于分析线强度。这时背景的测量、校正和扣除等,就成为影响分析结果的重要因  相似文献   
5.
地质样品痕量元素分析中的基体校正,前人作过大量工作。但是对于主元素(主要指铁)吸收限长波侧的基体校正还未很好解决。本文利用相对吸收的概念,计算了主  相似文献   
6.
X射线荧光分析中最基本的测量是X荧光辐射的强度。在元素分析线角度处测得的强度并不都是样品中该元素的贡献,除元素分析线的强度(净强度)之外的计数统称为  相似文献   
7.
采用压片制样波长色散X射线荧光光谱法对古陶瓷胎釉样品的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、Sc、TiO2、V2O5、Cr2O3、MnO、Fe2O3、CoO、NiO、CuO、ZnO、Ga、As、Br、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Sn、Sb、Cs、BaO、La、Ce、Nd、Sm、Hf、PbO、Bi和Th等37个主、次、痕量组分进行测定。使用经验系数法和康普顿散射、背景作内标校正基体效应。方法经土壤和水系沉积物国家标准物质验证,测定值与标准值吻合;除个别组分,大多数元素11次测定的相对标准偏差(RSD)小于10%。方法的检出限、精密度和准确度能满足古陶瓷样品的分析要求,应用于7个古陶瓷样品的分析检测,分析结果与其他分析方法对比具有很好的一致性。  相似文献   
8.
大洋锰结核中主要金属元素的X荧光光谱船上现场分析   总被引:4,自引:0,他引:4  
深海远洋矿产资源调查,需要有效的现场分析手段.X射线荧光光谱法(XRF)是一种现代化的非破坏性多元素快速分析方法[1],由于该法所需样品制备手续简单,一般不进行化学处理(因而对环境无污染),甚至取样可不用称量,因而更适合在调查船上使用.本法采用粉末样品直接压片制样[2],标准化测量,用经验系数法和散射内标法校正基体效应.在长时间的海上调查中,用一参比样品对测量进行监控并统计检验其测量精度.对所测元素,方法精度均小于1%.分析结果用化学方法检验并用美国锰结核标准样品对照,准确度可满足现场分析要求.  相似文献   
9.
金银铂及首饰物的无损检测   总被引:1,自引:2,他引:1  
使用X射线荧光光谱仪,采用透空照射、数学校正法并与比重法联用,可无损检测金、银、铂及饰物的成色,判别包、镀金饰品,较好地校正了饰物的形状、面积和光洁度的影响,不受宝石镶嵌物的限制,能够提供金、银、铂及饰物的成色和杂质元素的配比数据。用该法测定24K及14K值饰品的RSD(n=9)分别为0.01%和0.82%,测定范围在1%~100%之间。  相似文献   
10.
用熔融法制样,在基本参数法的基础上,结合交互有效法和PRESS值的计算,建立起稳定性较好的基体校正模型。分析结果表明,该法用较少标样即可满足定量分析铝土矿和粘土中十一个元素的要求,本软件可在UNIX、DOS和XENIX操作系统下运行。  相似文献   
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