应用轻便型X射线荧光仪在原生产状下测定锡品位——代替刻槽取样

研究应用轻便型X射线荧光仪在矿山开采面上测定原生产状下或块状样的锡品位,代替刻槽取样,来查明矿石质量,就地监督出矿品位,加快开采速度,提高经济效益,同时可以降低矽尘危害,保护作业工人的健康,是一项具有实用意义的研究内容。