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分析高山通信基站机房遭受邻近雷击和直接雷击时的电磁环境及其危害,指出应采取屏蔽措施来降低机房内磁场强度。在屏蔽材料的选择上,通过分析材料在电磁场下的性能,提出选择钢质材料为佳。通过对屏蔽系数、屏蔽效率和成本效率与屏蔽网格尺寸大小的关系性进行综合分析,得出屏蔽网格为1 m×1 m时效益最好。 相似文献
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随着经济的发展,电梯正越来越多应用于各种建筑物中,且趋向于微电子化,极易遭受雷击电磁脉冲的影响,造成运行中断。有些机房实施了相应的雷击防护措施,但还是未能避免设备的损坏。根据相关规范和理论,结合雷灾实例,就其雷击电磁环境进行分析,以期对实际运用有所借鉴,减少雷击灾害。 相似文献
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结合防雷技术规范和实际工作中的经验,分析了计算机机房产生静电的途径和静电的危害,提出了防静电危害的几种经济有效方法,即电磁屏蔽、合理布线、接地及等电位连接,要求严格的机房还应让工作人员穿戴防静电服装、配带腕带,必要时使用静电消除设备。 相似文献
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分析了目前3个国家级气象卫星地面站无线电环境对数据接收的实际影响,给出了我国下一代极轨气象卫星使用的频率范围,论述了建站前和运行过程中无线电环境测试的必要性。以北京气象卫星地面接收站的电磁环境测试与分析为例,介绍了气象卫星地面站电磁环境的测试原理、计算和分析方法,内容包括:干扰源的分类,被测试区域最大干扰允许值的计算、测试系统参数、测试的过程、测试数据。对测试的数据进行了分析,并根据分析结果对干扰源进行了确定。提出了解决办法:通过无线电环境测试查找干扰源,然后通过无线电管理部门进行协调,同时在接收设备上采用一些抗干扰的技术手段。 相似文献
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周雄伟 《沙漠与绿洲气象(新疆气象)》1996,19(5):36-37
1引言VSAT通信设备采用了当代先进的高新电子技术、大规模数字集成电路和工艺措施,对运行的环境有着严格的要求。为使通信设备充分发挥功能,最大限度地延长其使用寿命,其运行环境场必须进行科学的技术改造。环境场主要包括供电环境、机房环境、天线(室外单元)环境等方面。油于各地客观环境差异大,改造中需要解决的问题、采取的措施也各不相同。下面针对我区的情况着重阐明环境场改造中应采取的各种措施。2我区的客观条件及环境场改造中采取的主要技术措施2.1VSAT通信设备对机房要求及改造中采取的技术措施我区处于高寒和干旱地带… 相似文献
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在弱电机房防雷系统建设和工程验收过程中,需要一个全面、实用和直观的评判方法,来评价其防雷系统的防护能力是否达到设备安全的要求。以一个弱电机房防雷工程项目为例,分析并得出影响弱电机房防雷系统可靠性的关键参数是:空间屏蔽效能、传输线缆的屏蔽效能、终端最大脉冲电压设限、机房布线最大开口环的感应电压、均压和泄流能力等。在此基础上,以归纳描述或量化分析的方法,对这些关键参数进行了评估和计算,并得出弱电机房防雷设施效能判定参数表。 相似文献
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近年来,由雷击引起的电梯停运事件时有发生,雷电对电梯的损坏主要有闪电电涌侵入、地电位反击、辐射电磁场等3种主要途径。经过专业技术人员的现场鉴定调查发现,以雷电辐射电磁场诱发的控制板损坏引起的为最多。以一幢超高层建筑物为例,计算雷击建筑物以外附近218 m和雷电直接击在建筑物上防雷区LPZ1区、LPZ2区内磁场强度,分析雷击时辐射电磁场对电梯机房LPZ2区控制设备的损坏机理,并得出以下结论:确定点距LPZ1区屏蔽最短距离取最大值能尽可能减小磁场强度值;电梯机房LPZ1区屏蔽网格宽度w≤0.15m时,若建筑物电梯机房顶接闪器遭受小于等于150kA雷电流直接雷击,机房内控制设备一般不会受到辐射电磁场的干扰。 相似文献
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计算机机房空调系统的探讨魏建华(省气象局通信台兰州730020)1兰州区域气象中心计算机机房空气调节的计算和技术分析计算机机房的空气调节系统,只有按严格的技术要求装置,才能保证计算机系统的正常运转,充分发挥现代化设备的效益。机房空调送出的凉风使室内物... 相似文献
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1引言鹤岗市污水处理厂对污水的处理净化分成多个过程来完成.在过程控制中分段采用几个独立的PLC系统进行控制,对其中的PLC系统加装电源型电涌保护器和信号型电涌保护器.围绕PLC控制机房敷设了环形地网,对机房内设备进行了等电位连接。本文主要探讨其中一个污水池开关量信号线在安装信号保护器过程中遇到的问题。 相似文献
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影响地(市)、县级气象台(站)计算机系统机房和场地安全的主要原因可归纳为以下3个方面的问题。1环境导致的安全问题机房和场地物理环境方面对计算机系统造成的影响,主要体现在计算机设备机房温度、湿度、尘埃、腐蚀性气体、电磁场、静电、冲击振动等方面的要求上。机房环境条件的好坏,对充分发挥计算机系统的性能,延长机器使用寿命等方面都是非常重要的问题。在计算机加电工作时,环境温度的升高对正常工作造成影响,当温度过高时,可能会使某些元器件不能正常工作甚至完全失去作用,从而导致计算机设备的故障。高湿度时水蒸气在元器件或由介质… 相似文献