粉末样品中主、次量元素的XRF法分析——理论α系数与内标校正法

本文继《岩石中多元素的X射线荧光光谱测定—经验系数法》的工作之后,又进行了理论。系数法用于粉末样品的分析研究。并对两者进行了比较。认为:理论α系数法优于经验α系数校正法,并具有一些突出的优点——较宽的分析范围和好的分析精度。本法对痕量元素的分析,采用散射内标校正法。     

一种改进的X荧光分析基体效应校正方法及软件实现

在能量色散 Ｘ 荧光谱分析中,使用罗兹方程法校正基体效应,存在一定的局限性。为了获得最佳校正效果,本文提出了一种改进的基体效应校正法。该法是以罗兹方程为基础,在校正模型中引入特散比,并加强待校正元素在模型中作用的一种经验系数法。为了能够快速地对地质样品进行批量分析,在 Ｗ ｉｎｄｏｗ ｓ９８ 平台上,运用 Ｖ Ｃ＋ ＋ ５．０ 工具编制了分析软件,由其完成全部校正分析过程。     

粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法测定地球化学样品中氯的方法研究

在对比已有相关分析方法的基础上,建立了粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法测定地球化学样品中氯元素的分析方法.采用岩石、沉积物和土壤等78种国家一级地球化学标准物质作为校准系列建立校准曲线;利用经验系数法进行基体效应校正,利用含量校正法进行谱线重叠干扰校正;总结了地球化学样品中氯元素测定值随测定次数的变化规律及原因.结果表明:氯的检出限为7.95μg/g;分析3种国家一级地球化学标准物质12次,得到测定值的相对标准偏差均小于10％;采用国家一级地球化学标准物质验证方法准确度,测定值与标准物质认定值相吻合,测定平均值与标准物质认定值的对数差值的绝对值(?lgω)均小于或等于0.02,满足多目标区域地球化学调查规范的要求.     

X射线荧光光谱法测定高氟地质样品中氟、钙等元素

采用X射线荧光光谱法测定高氟地质样品中氟、钙等元素,对样品进行熔融制样前处理,理论α系数和经验系数法校正基体效应。应用此方法分析国家一级标准物质和代表性样品,所测元素的精密度(RSD)均小于5%(除含量较低元素);分析不参加回归的标准物质和人工配制的标准样品,测量结果与标准值基本一致。通过实验数据可知,该方法可以满足高氟硅酸盐样品、萤石、萤石型铀矿、磷矿石等样品的测定要求。     

环境标准样品均匀性检验数据漂移校正方法探讨

均匀性检验是环境标准样品研制的重要技术环节,在均匀性检验过程中,数据漂移对环境标准样品均匀性判定及其不确定度评定的影响不容忽视。本文结合实例,从实验方案和数理统计方法等方面探讨了随机分析法、随机区组法、内插校正法、趋势分析校正法等均匀性检验实验方案及数据漂移校正方法。提出采用t检验法判断数据漂移的显著性,在数据漂移趋势不显著的情况下,采用随机分析法进行标准样品的均匀性检验。在数据漂移显著的情况下,宜采用内插校正法或趋势分析校正法对均匀性数据进行漂移校正。以某土壤中Ni元素均匀性检验为例,经采用内插校正法和趋势分析校正法校正漂移数据后,测量值的相对标准偏差(RSD)由3.0%分别下降为1.4%和1.2%,直线模型斜率的绝对值由0.2003 mg/kg分别下降为0.02870mg/kg和4.709×10~(-5)mg/kg。土壤中Ni、Cu、Co、Tl等4种重金属元素的瓶间均匀性不确定度分量(u_(bb))与随机分析法相比,下降最高达78%。在长时间分析测试过程中数据漂移校正效果欠佳的情况下,宜采用随机区组法进行标准样品的均匀性检验。     

地球化学样品中铀的激光荧光法测定

采用四酸分解样品，盐酸浸取分取溶液，激光荧光法测定地球化学样品中的铀。应用内滤效应校正法和标准物质校正法，消除铁元素干扰而引起结果偏低的系统误差问题，取得了满意的效果，铀的检出限为0．44μg／g；实际测定的精密度RSD≤5．51％。     

X射线荧光光谱法测试重晶石中的多元素

采用玻璃熔片法制样,建立了重晶石中多元素X射线荧光光谱分析方法.准确称取待测样品0.5000 g,X射线荧光专用熔剂5.000 g;二者混合后,通过高频熔样机在1150℃进行熔片处理8 min;将最终得到的样片放入干燥器中冷却至室温,然后准确称取玻璃片质量;上机测试,所得到的数据为该元素在玻璃片中的含量;通过换算最终得到实际样品中的该元素含量.使用理论α系数法和经验系数法相结合来回归校正共存元素间的吸收增强效应.本方法对于重晶石中各元素的测试相对标准偏差处于0.2%~4.7%之间,方法检出限在3.3×10^-6~170.6×10^-6之间.测试数据通过与国家标准物质比对,结果合理.     

密度校正法测定金饰品中的金

通过研究共存元素及基体效应,提出了用Ｘ射线荧光密度校正法（ＸＲＦ）无损检验金饰品中金。该方法测定金的含量范围为１０％￣９９％,精密度为０．２％。     

熔融制样-X射线荧光光谱法测定稀土矿石中的主量元素和稀土元素

应用熔融制样-X射线荧光光谱法(XRF)分析矿石样品具有定量准确、试剂用量少、重现性好等优点,但由于目前稀土标准物质较少,不能满足复杂稀土矿石类样品的准确定量要求。本文采用配置人工标准样品,解决了现有稀土标准物质较少的问题,加入高纯稀土氧化物La2O3、Ce O2、Y2O3扩展了La、Ce、Y的线性范围,利用人工标准样品和现有稀土标准物质、碳酸盐标准物质制作工作曲线,建立了XRF测定稀土矿石、矿化样品中25种主量元素和稀土元素的分析方法。针对主量元素采用理论α系数法校准,稀土元素采用经验系数法校准,对有谱线重叠的元素进行干扰校正,使绝大多数主量元素的相对标准偏差(RSD,n=13)小于1.5%,稀土元素含量在300"g/g以上时RSD(n=13)在0.69%~6.94%之间。通过未知样品考核,主量元素、稀土元素和烧失量的加和结果为99.41%~100.63%,满足《地质矿产实验室测试质量管理规范》的一级标准。     

应用X射线荧光法测定铁矿石中的铁

采用Li2B4O7+LiBO2混合试剂熔融法制样,应用WD-XRF光谱仪测定铁矿石中的Fe及Si、Al、Ca、Mg、K、P、Ti、Mn等元素。试验采用理论α系数和经验系数法相结合的基体效应校正模式,主要元素铁的测定采用Co2O3做内标[1]。经标准物质检验,统计结果显示,主元素Fe的测试精密度、准确度[2]均满足要求,RSD≤0.12%(n=20)。随机选择30件样品,与滴定法测铁的数据吻合较好。     

用原子灯作背景校正的初步研究

原子吸收分析中的背景吸收,主要是由分子吸收和光散射引起的。含有大量钙、镁、钠、钾、铁、铝等盐类的试样,在紫外——可见波段内,都可能有背景吸收。背景吸收是一种“假吸收”,使吸光值增加,产生正误差。因此,背景吸收对元素测定的影响是很大的。 目前,有三种扣除背景的方法:(1)氖灯背景校正法;(2)蔡曼效应背景校正法;(3)非吸收线扣除法。但是这些方法都有缺点:氖灯价格昂贵,使用寿命短,只能用于紫外,有理论误差,调节困难;蔡曼效应法只能在特制的仪器上     

锆英砂样品中锆铪谱线饱和厚度的计算及应用

应用熔融制样X射线荧光光谱法测定锆英砂中的锆,通常采用Zr Kα线,而采用Zr Kα线作为分析线对熔融片来说并未达到饱和厚度,因此Zr的线性差,测定结果误差大。本文采用波长色散X射线荧光光谱法测定锆英砂样品中锆铪硅铝钙钛铁镁钠铪磷锰等12种组分。重点研究了锆分析谱线的选择,通过理论计算熔融片中Zr Kα线的饱和厚度为6638 μm,而Zr Lα线的饱和厚度为20 μm。由于熔融制备样片厚度为2500 μm,在熔融片中Zr Kα线远未达到饱和厚度,因此测定锆时应用Zr Lα谱线取代文献中应用的Zr Kα谱线。采用Zr Lα线,校准曲线的标准偏差（RMS）为0.39,而Zr Kα线的RMS为1.03,ZrO₂分析结果的准确度和精密度有了显著的提高。对于锆,Hf Lα和Hf Lβ线饱和厚度分别为971 μm、1444 μm,由于Hf Lα₁谱线与Zr Kα二次谱线重叠,因此测定铪时应用Hf Lβ线作为分析线。实验还对四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂、熔样比例和熔样温度等实验条件进行了优化,使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,各元素计算的检出限与实际能报出的结果基本一致,方法精密度（RSD）为0.1%~10.9%,各元素的测定值与化学法测定值相符,表明通过饱和厚度的计算确定的锆和铪测定谱线具有可行性。     

理论α系数法波长色散X射线荧光测定土壤中的重金属

近年来,重金属带来的土壤污染问题日益严重,快速、准确、有效地测定土壤中重金属种类及含量对土壤重金属污染评估及后续污染防治具有重要意义。本研究建立了波长色散X射线荧光光谱法同时测定土壤样品中铬、铅、锌、铜、钴、镍、锰、钒8种重金属元素含量的检测方法,通过经验法与理论α系数法的结合,优化了实验条件,方法线性良好,准确度与精密度较高,并且极大的简化了测定过程,提高了工作效率。将应用于土壤重金属含量初步评估,与ICP-MS的测定结果吻合度高。土壤监测结果表明,目标区土壤均符合二级土壤限量标准,该区土壤环境质量总体较好。而且该法减少了实验前处理过程中化学试剂的使用,避免了前处理过程中带来的环境污染问题,适用于规模较大的地质、农业、环境监测分析等生产单位进行土壤中重金属元素的快速测定。     

理论α系数法波长色散X射线荧光测定土壤中的重金属

近年来,重金属带来的土壤污染问题日益严重,快速、准确、有效地测定土壤中重金属种类及含量对土壤重金属污染评估及后续污染防治具有重要意义。本研究建立了波长色散X射线荧光光谱法同时测定土壤样品中铬、铅、锌、铜、钴、镍、锰、钒8种重金属元素含量的检测方法,通过经验法与理论α系数法的结合,优化了实验条件,方法线性良好,准确度与精密度较高,并且极大的简化了测定过程,提高了工作效率。将应用于土壤重金属含量初步评估,与ICP-MS的测定结果吻合度高。土壤监测结果表明,目标区土壤均符合二级土壤限量标准,该区土壤环境质量总体较好。而且该法减少了实验前处理过程中化学试剂的使用,避免了前处理过程中带来的环境污染问题,适用于规模较大的地质、农业、环境监测分析等生产单位进行土壤中重金属元素的快速测定。     

元素正态分布偏度、峰度检验法PC—1500应用程序

在研究元素正态分布规律时,经验分布与理论分布之间存在的偏度,一般用偏度和峰度来衡量,若偏度和峰度在一定范围内变化,就可以认为经验分布是服从理论分布的;否则不服从理论分布。本文以某地化探资料中Mo元素为例,在PC—1500机上进行正态分布检验,并一次绘制出频率直方图。     

X射线荧光光谱法同时测定白云岩中氧化钙和氧化镁等主次量组分

针对白云岩主次量组分同时测定中存在的问题,采用熔融玻璃片和粉末压片法制样(运用熔片-压片法相结合),选用有关的国家一级标准物质和省二级标准物质,以经验α系数法和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,采用X射线荧光光谱法对白云岩样品中的氧化钙、氧化镁、氧化铝、二氧化硅、磷、氧化锰、全三氧化二铁和硫8个组分进行测定,分析结果与标准值或化学值吻合,各组分12次重复测定的相对标准偏差小于10%。方法操作简便、快捷。     

多收集器等离子体质谱快速精确测定钕同位素比值

应用多收集器等离子体质谱,采用双分馏系数内部校正法对国际标样Shin-EtsuJN di-1和实验室标样Nd-GIG的143Nd/144Nd比值进行了为期3个月的测量统计,结果分别为0.512121±0.000011(2σ,SD)、0.511531±0.000010(2σ,SD)。采用单分馏系数外部校正法对Nd-GIG标样的测量统计结果为0.511522±0.000008(2σ,SD)。测量结果在分析误差范围内与其推荐值或表面热电离质谱测量值完全一致。对m(Ce)/m(Nd)约为0.10的两份Nd-GIG混合样进行了测量,结果表明,利用多收集器等离子体质谱可直接分析残留铈的样品,其测量结果在误差范围内。     

基于加权确定性系数法的地质灾害易发性分析

针对传统的确定性系数法在地质灾害易发性分析中未能考虑各评价因子对地质灾害易发性影响的差异性问题,提出了将层次分析法与确定性系数法相耦合的加权确定性系数法。利用传统确定性系数法计算各因子不同特征变量下的地质灾害易发性指数,利用层次分析法确定各因子的权重大小,并将所有因子的易发性指数进行加权求和,进而分析多因素耦合下地质灾害的易发性大小。以陕西省澄城县地质灾害为例,在GIS支持下分别采用传统确定性系数法与加权确定性系数法进行地质灾害易发性分析的应用研究,结果表明加权确定性系数法对地质灾害易发性分析结果的准确性优于传统确定性系数法。可为区域地质灾害易发性分析的理论方法研究及应用提供参考。      

X—射线营光光谱分析中确定基体元素参加校正顺序的判据

本文提出在X－射线荧光光谱分析中理论α系数与基体元素浓度中值之积的绝对值作为经验系法回归时基体元素逐步参加校正的顺序判据，在四硼酸锂熔片体系和地球化学标准物质11个主，次元素浓度范围内考查本法的正确性，并与PLESCH判据法进行比较，实际校正结果表明本法更合理，更简便。     

X射线荧光光谱法在有色金属矿石标准物质定值分析中的应用

报告了X射线荧光光谱法在铜矿、铅矿、锌矿、钨矿和钼矿标准物质定值分析中的应用。样品用低倍稀释熔融法在热解石墨坩埚中熔融,用人工标样进行校准,计算了COLA方程的理论影响系数,所有分析元素全部用理论影响系数法校正吸收-增强效应。分析结果与不同实验室不同分析方法的结果相吻合。